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MTF函數測量,激光參數測量的應用
MTF函數測量,激光參數測量的應用
  • MTF函數測量,激光參數測量的應用

MTF函數測量,激光參數測量的應用

產品報價:99999元

更新時間:2020/2/18 10:25:32

地:廣東

牌:Phasics

號:MTF

廠商性質: 生產型,貿易型,

公司名稱: 深圳維爾克斯光電有限公司

產品關鍵詞: 激光參數測量   SID4 波前傳感器   四波橫向剪切干涉   波前相差儀   波前探測器  

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劉經理 : (13691916712) (0755-84870203)

(聯系我時,請說明是在來寶網上看到的,謝謝?。?/b>


       主要介紹的是法國Phasics的產品,其產品涵蓋了以上所有應用,Phasics是一家優秀的波前分析儀制造商以及應用領域涵蓋廣的設備生產商。

  

其相變測試能力在波前測量和四波橫向剪切干涉儀分析中均處于領先地位。對于每種應用,專家級軟件包均提供完整且相關的分析,以充分利用高分辨率波前測量。Phasics著眼于客戶,著眼于滿足所有需求;其強大的研發團隊不斷開發創新功能,并根據客戶要求定制標準配置。

 

法國Phasics SID4 波前傳感器系列在激光參數測試上的應用(作為光斑分析儀):

Phasics波前傳感器可同時提供高分辨率的相位圖和強度圖。 它與SID4軟件結合使用,可以對激光束進行完整的參數測試報告:波前像差,激光束參數,光束輪廓,M2光束質量參數等等參數。其緊湊的設計可以直接定位在激光光束的任何位置,因此它可以直接測量發散光束。緊湊且易于對準,無中繼透鏡的發散光束測量,光束輪廓。

 

對于大功率激光工程師

-設計并保證的激光參數質量

-實驗前檢查激光

 

對于激光制造商:

-在研發或生產中進行快速全面的光束質量控制(包括M2)

-SID4可用于400nm-1000nm 的激光的波前像差,強度分布,波前位相、澤尼克參數, 激光的M2值等參數進行實時的測量及參數輸出。

 

適用于任何激光器

-連續到脈沖激光器

-UV到遠紅外

-寬帶激光器,例如OPO激光器,飛秒激光器

 

法國Phasics SID4 波前相差儀特點:

-全光束特征(具有高分辨率的相位+強度)包括:像差(Zernike,Legendre),PSF,斯特列爾比,環繞能量,光束輪廓

-符合ISO 11146標準的M2測量:一次性測得;適用于任何激光,包括飛秒激光.

-在激光的任何點均進行全面測試:緊湊且易于對準,無需中繼透鏡即可進行發散光束測量,光束輪廓

-圓形或矩形瞳孔,多通道測試,傾斜光束

 

法國Phasics SID4 Element,SID4Bio,SID4-sC8波前分析儀在成像上的應用:

Phasics引入了光學顯微鏡的新形式:定量相位成像(QPI)。該解決方案包括一個類似于照相機的儀器,該儀器可與所有標準顯微鏡兼容,并具有適合許多應用的全面軟件套件。主要的原理是:每個樣本在光傳播時都會在光路上產生延遲。 該延遲量(相移或光程差)可通過相位技術測量,由此此獲得圖像,對于該圖像,每個像素值是所測量的局部相移。像素值與物理厚度和樣本局部折射率有關。

生命科學:細胞學,無單細胞成像,組織學等方面。 它可以輕松地對標本(例如活細胞,組織或任何其他半透明標本)進行無標簽成像。 它提供了無偽影的定量相圖像,可精確測量有價值的參數:形態,干重,單個細胞的密度……它適用于癌癥和干細胞研究,藥物篩查,血液檢查……智能儀器只需插入任何光學儀器即可。易于多模態的設置,例如相熒光組合。

熱成像:Phasics提出的使用四波剪切干涉儀(TIQSI)解決方案的熱成像技術使用高分辨率波前傳感器,該傳感器與任何具有自然寬帶照明條件的顯微鏡兼容,并帶有任何附加的激光模塊。 熱成像顯微鏡技術可以研究細胞生物學,物理學和化學領域的各種應用。所使用的熱成像技術是菲涅耳研究所(G. Baffou)博士與Phasics SA合作開發的一種非侵入式熱顯微鏡技術,能夠將照明納米結構產生的熱量表征為納米級。TIQSI基于對已知介質的熱誘導折射率變化的測量,該測量是通過波前測量將其轉換為溫度變化值。

材料檢查:折射率分析,波導測量,表面檢查,LIDT評估等等方面。定量相位成像(QPI)技術非常適合用作半透明樣品的折射率測量,具有準確且無損的優勢。 QPI技術可以在半透。明樣品(例如玻璃)中提供具有亞納米級精度的波導的精確折射率分布。 對于LIDT技術,目標是檢測材料表面特征中激光引起的永久變化。 QWSLI技術的優勢在于可以進行原位表面分析。

 

法國Phasics Kaleo MTF測試儀在透鏡質量控制以及光學表面測試的應用:

Phasics提供了獨特的鏡頭測量原理,無需中繼透鏡即可直接測量波前。利用使用光傳播理論進行計算:提供波前像差和MTF。不使用目標就可以在任何頻率下獲得MTF。僅一次波前采集便可提供完整的鏡頭質量參數:適用于任何頻率和方位的MTF(調制傳遞函數),TWE(傳輸的波前誤差)和像差(Zernike系數)的測試,可同時設置的多個波長進行測試。擁有嚴格的MTF和TWE的離軸波前分析,并且可以在測量平面上與Zemax設計的比較。

 

總結:波前探測主要是測量光束的相位變化,利用干涉的原理,得到干涉的圖樣對所測量的物體進行無損探測??商綔y激光光束的所有參數,應用于成像方面:可用來做細胞組織的無熒光標記成像,可用于熱成像以及材料的檢查。此外還可以用于光學透鏡質量控制,光學表面測試。


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